從 Loadport、Robot、Aligner 到巨觀/微觀檢測區,建立機台內部微環境的潔淨證據
一、前言:先進封裝的潔淨風險,不能只看無塵室等級
先進封裝製程持續朝向更高密度、更精細的互連與檢測發展,晶圓、載板與精密元件在機台內部經歷上料、搬運、定位與光學檢測等多道流程。即使外部無塵室維持良好分級,設備內部的 Robot 摩擦、Aligner 動作、氣流死角與局部結構材質,仍可能形成不同於室內背景的微粒風險。因此,真正關鍵的問題不只是「廠房有多乾淨」,而是「晶圓所在的機台微環境是否足夠乾淨」。
本案例來自先進封裝產業的自動化檢測設備供應商。為確認 V5 Auto OM 機台在實際運轉時的內部環境潔淨度,客戶委託拓生科技進行動態微粒子檢測,目標是驗證機台內部是否符合 FED-STD-209E Class 1 的要求。本文聚焦於測試邏輯、數據結果與設備供應商可複製的驗證方法。

二、為何必須做「機台內部」微粒子檢測?
對先進封裝與高階自動化設備而言,機台內部並非靜止空間。Loadport 的載具進出、Robot 的運動、Aligner 的校正與光學模組運行,都可能帶來微小擾動。若設備設計、組裝清潔、氣流路徑或零組件選材沒有被驗證,即使單一動作釋放的微粒極低,長時間累積仍可能影響敏感製程或造成客戶對設備品質的疑慮。
此時,微粒子計數器提供了直接且可量化的答案。它不以外觀或主觀判斷來推估潔淨度,而是依指定粒徑、採樣流量、採樣時間與測點規畫,取得機台內不同區域的實際懸浮微粒數據。對設備供應商而言,這些資料可作為出機驗證、客戶驗收與設備設計優化的共同語言。
三、本案測試設計:在設備運轉狀態下驗證 9 個關鍵區域
本案的受測機台為 V5 Auto OM。測試採「動態」條件執行,也就是機器處於實際運轉工作中,而非單純靜置後量測。採樣高度與 Wafer 一致,使數據更貼近晶圓在設備內所處的實際微環境。每個測點均量測三次,以避免單次偶發讀值被直接視為代表結果。
| 測試項目 | 本案條件 | 設計意義 |
| 量測儀器 | TSI AeroTrak 9110 微粒子計數器。 | 可量測 0.1 至 5.0 μm 共 8 個粒徑通道。 |
| 採樣條件 | 1 CFM;每次 1 分鐘;採樣體積 1 ft³。 | 以固定體積取得可比較的微粒濃度資料。 |
| 量測狀態 | 設備動態運轉中。 | 評估實際功能運作下的潔淨表現,而非只看靜態狀態。 |
| 量測高度 | 與 Wafer 一致。 | 聚焦對產品最具代表性的暴露高度。 |
| 測點配置 | Loadport、Robot、Aligner、巨觀區、微觀區,共 9 點。 | 涵蓋上料、搬運、定位與檢測等主要功能區。 |
| 判定基準 | FED-STD-209E Class 1。 | 以高潔淨度要求檢視機台內部微環境。 |

四、Class 1 的意義:不只看總數,更看關鍵粒徑能否被控制
報告採用 FED-STD-209E Class 1 作為判定基準。在每立方英呎的採樣體積下,大於 0.1 μm、0.2 μm、0.3 μm與 0.5 μm 的微粒上限,分別為 29、7、3 與 1 顆。這類規格的難度在於:設備不但要維持低微粒背景,更必須在機構動作時避免將微粒推升至關鍵粒徑的限制以上。
因此,本案並未只選擇一個代表點作為判斷,而是按照機台作業功能分成 9 個測點。這種分區策略能協助工程團隊辨識潛在風險是否集中在搬運、定位或光學檢測模組;若未來某區域數據出現變化,也能更快回溯至相對應的機構、氣流或維護項目。
五、檢測結果:9 個測點全數 Pass,關鍵粒徑通道皆為零
本次測試的 9 個測點均完成三次量測,結果全數 Pass。尤其在對製程更具代表性的 0.3 μm、0.5 μm、1.0 μm 與 5.0 μm 通道,所有測點的讀值皆為 0。對照 Class 1 在 0.3 μm 與 0.5 μm 的嚴格上限,這代表 V5 Auto OM 在本次動態測試條件下,於關鍵粒徑區間具良好的微粒控制表現。
| 功能區/測點 | 主要觀察結果 | 判定 |
| Loadport(A1、A2) | A1 僅見極低 0.1/0.15 μm 計數;A2 全通道為 0。0.3 μm 以上均為 0。 | 全數 Pass |
| Robot(A3) | 0.1–0.25 μm 有低量計數;0.3 μm 以上皆為 0。 | Pass |
| Aligner(A4) | 0.1 μm 單次最高 10 #/ft³;0.3 μm 以上皆為 0。 | Pass |
| 巨觀區(A5、A6) | 六次量測全部通道為 0。 | 全數 Pass |
| 微觀區(A7、A8、A9) | 九次量測全部通道為 0。 | 全數 Pass |
從分區數據來看,Robot 與 Aligner 出現少量 0.1–0.25 μm 微粒,符合機構運動與精密定位區在動態量測時可能呈現的低量背景特性;更重要的是,這些讀值仍在標準範圍內,且未延伸至 0.3 μm 以上的關鍵粒徑。相對而言,巨觀區與微觀區在所有量測中均為零,顯示檢測區對微粒控制具有良好表現。

六、從一次測試延伸到量產管理:設備供應商的三項建議
第一,將機台內部微粒子檢測納入出機與重大改版的驗證程序。當 Robot、Aligner、抽氣系統、罩體材料或氣流設計改變時,建議重新以相同測點與動態條件確認結果,使品質資料可跨版本比較。
第二,建立功能區別的趨勢資料,而非只保留單一整機結論。Loadport、Robot、Aligner 與檢測區的微粒表現具有不同機構意義;長期追蹤可協助預先發現摩擦、潤滑、零件磨耗或局部氣流異常的早期訊號。
第三,確保測試儀器的校正狀態與資料可追溯性。本案使用的 TSI AeroTrak 9110 於測試前完成校正,相關校正資料符合 ISO/IEC 17025 要求。結合TAF 認證校正實驗室資源,能使設備供應商在面對客戶驗收或品質稽核時,更具數據說服力。

七、拓生科技的專業服務:讓設備潔淨度成為可被驗證的競爭力
拓生科技提供無塵室第三方公正代測服務,可依設備用途、目標潔淨等級與機構動作特性,規畫靜態或動態微粒子檢測方案。從測點布局、採樣條件、背景資料、量測執行到報告判讀,協助設備供應商以一致的流程建立潔淨品質證據。
本案例顯示,V5 Auto OM 在動態運轉與 9 點分區檢測條件下,全部通過 FED-STD-209E Class 1 判定;但專業驗證的價值,不僅在於一次 Pass,更在於建立未來可以重複執行、可比較、可追溯的品質管理基線。這正是先進封裝自動化設備從「能運作」走向「能被高標準客戶信任」的重要一步。
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